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文档摘要

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微控制器固件非仿真并行模糊测试方法研究

一、引言

随着微控制器技术的快速发展，固件安全问题日益突出，对固件进行全面、高效的测试显得尤为重要。传统的仿真测试方法虽然可以模拟硬件行为，但往往存在效率低下、难以覆盖所有可能情况的问题。因此，非仿真并行模糊测试方法成为了固件测试领域的研究热点。本文将针对微控制器固件的非仿真并行模糊测试方法进行研究，旨在提高固件测试的效率和准确性。

二、微控制器固件非仿真并行模糊测试概述

微控制器固件非仿真并行模糊测试是一种基于模糊测试技术的固件测试方法。该方法不依赖于硬件仿真，通过生成随机输入数据，对固件进行并行测试，以发现潜在的固件缺陷和漏洞。该方法具有测试速度快、