NXP 系列：LPC1700 系列_（13）.LPC1700系列的调试与测试技术.docx

基本信息

文件名称：NXP 系列：LPC1700 系列_（13）.LPC1700系列的调试与测试技术.docx

文件大小：26.43 KB

总页数：24 页

更新时间：2025-07-13

总字数：约1.28万字

文档摘要

PAGE1

LPC1700系列的调试与测试技术

1.调试工具介绍

1.1.使用LPC1700系列的调试工具

LPC1700系列单片机支持多种调试工具，包括硬件调试器和软件调试器。常用的硬件调试器有JTAG和SWD接口，而软件调试器则包括LPCXpressoIDE、KeilMDK、IAREmbeddedWorkbench等。

1.1.1.JTAG接口

JTAG（JointTestActionGroup）接口是一种标准的调试接口，广泛用于嵌入式系统的调试。LPC1700系列单片机支持JTAG接口，通过JTAG接口，调试器可以访问单片机的内部寄存器、内