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文件名称:基于光弹法的光纤轴向残余应力测量系统研究.docx
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更新时间:2025-07-13
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文档摘要

基于光弹法的光纤轴向残余应力测量系统研究

一、引言

在光学工程领域,光纤以其高灵敏度、大传输容量和低损耗等特性,被广泛应用于通信、传感和测量等多个领域。然而,光纤在制造和使用过程中,由于各种因素的影响,常常会产生轴向残余应力。这种应力不仅会影响光纤的传输性能,还可能对光纤的长期稳定性和可靠性造成不良影响。因此,对光纤轴向残余应力的准确测量和评估显得尤为重要。本文将基于光弹法,对光纤轴向残余应力测量系统进行研究。

二、光弹法原理

光弹法是一种通过测量材料在应力作用下的光学性能变化来分析材料内部应力的方法。在光纤中,当轴向残余应力发生变化时,光纤的折射率分布也会相应地发生变化。光弹法正是利用这一现