电平转换电路中NBTI老化效应的深度剖析与防护策略研究

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代集成电路设计中，电平转换电路作为关键的基础模块，承担着连接不同电压域的重要任务，其性能直接影响着整个集成电路系统的稳定性与可靠性。随着半导体工艺的不断进步，芯片集成度日益提高，不同功能模块往往需要在不同的电源电压下工作，以实现功耗、性能和成本之间的优化平衡。电平转换电路正是实现不同电压域之间信号准确传输与逻辑转换的桥梁，确保信号在跨越不同电压域时，既能保持正确的逻辑电平，又能满足时序要求，从而保证整个集成电路系统的正常运行。

在各种影响电平转换电路性能的因素中，负偏置温度不稳定性（Negative