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文档摘要

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3.元器件试验的方法与设备试验方法元器件外观检查破坏性检验：如开帽目检，打开封装目视检查，芯片剪切强度试验，变频振动试验可焊性试验外引线抗拉试验：适用于电阻、电容、电感、二极管、插座。外引线抗弯试验外引线抗扭矩试验:目的密封试验:恒定湿热试验:交变湿热试验老练试验键合强度试验案例：整流二极管是筛选确定筛选程序高温储存温度冲击常温测试检漏高温测反向漏电流跌落功率老化外检检查3.元器件试验的方法与设备3.元器件试验的方法与设备高温储存储存温度：150℃（+10，-0）；储存时间：96小时温度冲击要求-55℃（+0，-10℃