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文件名称：Microchip 系列：SAM G 系列 (基于 ARM Cortex-M4)_（12）.调试与测试技术.docx
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总页数：17 页
更新时间：2025-07-21
总字数：约8.71千字
文档摘要
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调试与测试技术
在开发基于MicrochipSAMG系列的嵌入式系统时，调试和测试是确保代码质量和系统稳定性的关键步骤。本节将详细介绍调试和测试的基本原理、常用工具和方法，帮助开发者高效地定位和解决问题。
调试工具
JTAG/SWD接口
JTAG（JointTestActionGroup）和SWD（SerialWireDebug）是常用的硬件调试接口。SAMG系列单片机支持这两种接口，开发者可以根据具体需求选择合适的调试方式。
JTAG接口：JTAG是一种标准的调试接口，支持多设备级联调试。它通常用于芯片内部状态的读取和写入