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文件名称：NXP 系列：Kinetis L 系列 (基于 ARM Cortex-M0+ 和 M4)_15.调试技术：JTAG与SWD.docx
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总页数：19 页
更新时间：2025-07-21
总字数：约1.08万字
文档摘要
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15.调试技术：JTAG与SWD
在单片机开发过程中，调试技术是确保代码正确性和系统稳定性的关键步骤。NXPKinetisL系列单片机支持两种主要的调试接口：JTAG(JointTestActionGroup)和SWD(SerialWireDebug)。本节将详细介绍这两种调试接口的原理和使用方法，并提供具体的代码示例。
15.1JTAG接口
15.1.1JTAG原理
JTAG接口是一种行业标准接口，最初用于测试印刷电路板上的焊接连接。然而，它也被广泛用于嵌入式系统的调试。JTAG标准定义了多个测试访问端口(TestAc