基本信息
文件名称：NXP 系列：LPC1768 (基于 Cortex-M3)_20. LPC1768调试和测试.docx
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总页数：25 页
更新时间：2025-07-23
总字数：约1.34万字
文档摘要
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20.LPC1768调试和测试
调试和测试是嵌入式系统开发中不可或缺的环节。通过有效的调试和测试，可以确保程序的正确性和稳定性，减少开发时间和成本。本节将详细介绍LPC1768调试和测试的方法和工具，包括硬件调试接口、软件调试工具、调试技巧以及常见的测试方法。
20.1硬件调试接口
LPC1768提供了多种硬件调试接口，最常用的包括JTAG和SWD（SerialWireDebug）。这些接口允许开发者与目标设备进行通信，执行调试操作。
20.1.1JTAG接口
JTAG（JointTestActionGroup）接口是一种标准的调试接口，