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文件名称:基于双脉冲测试原理的压接式IGBT开关特性测试平台设计与研究.docx
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更新时间:2025-07-24
总字数:约4.28万字
文档摘要

基于双脉冲测试原理的压接式IGBT开关特性测试平台设计与研究

一、引言

1.1研究背景与意义

1.1.1研究背景

在现代电力电子技术飞速发展的进程中,功率半导体器件扮演着愈发关键的角色,广泛应用于工业、能源、交通等诸多领域。绝缘栅双极型晶体管(IGBT)作为功率半导体器件中的重要一员,凭借其高输入阻抗、低导通压降、开关速度快以及驱动功率小等一系列显著优势,成为了众多电力电子设备的核心部件,在交流电机控制、逆变器、开关电源、变频器等领域发挥着不可替代的作用,被业界誉为功率变流装置的“CPU”。

IGBT器件主要有焊接与压接两种封装形式。传统的焊接式IGBT模块采用焊接、引线键合等工