基本信息
文件名称:探索空间相移干涉测量:方法、关键技术与应用突破.docx
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总页数:35 页
更新时间:2025-07-31
总字数:约4.45万字
文档摘要
探索空间相移干涉测量:方法、关键技术与应用突破
一、绪论
1.1研究背景与意义
在现代科学技术迅猛发展的大背景下,精密测量已然成为众多领域取得突破与进步的关键支撑,其重要性不言而喻。从微观层面的纳米材料特性探究,到宏观层面的大型机械结构性能评估,精密测量技术都发挥着不可或缺的作用。在半导体制造领域,芯片的集成度不断提高,对光刻精度的要求已达到纳米量级,精密测量技术能够确保芯片制造过程中的尺寸精度和图形质量,从而保证芯片的性能和可靠性。在航空航天领域,飞行器的设计和制造需要对各种零部件进行高精度的测量,以确保飞行器在复杂的飞行环境下能够安全稳定地运行。
相干干涉技术作为精密测量领域中的重要组成