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文件名称:高速深亚微米CMOS模数_数模转换器辐射效应、损伤机理及评估方法的深度剖析.docx
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总页数:33 页
更新时间:2025-08-04
总字数:约4.51万字
文档摘要

高速深亚微米CMOS模数/数模转换器辐射效应、损伤机理及评估方法的深度剖析

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代电子系统中,高速深亚微米CMOS模数/数模转换器(ADC/DAC)占据着极为关键的地位。随着信息技术的飞速发展,电子系统对于数据处理速度和精度的要求日益严苛,高速深亚微米CMOSADC/DAC作为连接模拟世界与数字世界的桥梁,其性能直接关乎整个电子系统的效能。在通信领域,无论是5G乃至未来6G通信系统中的信号处理,还是卫星通信中对微弱信号的精确采集与转换,高速ADC/DAC都发挥着不可或缺的作用,其高精度、高速度的特性确保了通信信号的准确传输与处理,为