电子散斑干涉条纹图与相位图滤波方法的多维度探究与应用实践

一、引言

1.1研究背景

在现代光学测量技术领域，电子散斑干涉（ElectronicSpecklePatternInterferometry，ESPI）技术凭借其独特优势，占据着极为重要的地位。ESPI技术是在激光、视频、电子及数字图像处理等多领域技术融合的基础上发展起来的，具有高精度、高灵敏、全场、实时测量等显著特点，自诞生以来便在众多科学研究与工程应用中展现出强大的实用价值。

在材料科学研究中，科研人员借助ESPI技术深入探究材料在不同外界条件下的微观变形机制。例如在高温、高压或者复杂应力环境中，材料内部原子结构的微