3）沿晶断口——晶界断裂也是一种脆性断裂（图8－8），冰糖状是晶界中的析出相、夹杂物及元素偏析集中造成的。延性沿晶断裂：石状断口，石状颗粒上有明显的塑性变形，呈韧窝特征，但韧窝中有夹杂物。扫描电子显微分析（SEM）第30页，共87页，星期日，2025年，2月5日4）疲劳断口周期性交变应力引起的断裂——疲劳断裂。疲劳断口特征：（附图疲劳断口二次电子像）疲劳核心区——裂纹扩展区——瞬时断裂区扫描电子显微分析（SEM）第31页，共87页，星期日，2025年，2月5日5）应力腐蚀开裂断口在一定的介质条件和拉应力共同作用下引起的一种破坏形式。产生过程：腐蚀斑点（裂纹源)斑点连接形成裂纹断裂断口形貌与疲劳断口相似。断口特征：腐蚀坑、腐蚀产物及泥状花样。扫描电子显微分析（SEM）应力作用下浸蚀扩展第32页，共87页，星期日，2025年，2月5日低碳钢纳米化样品在4N载荷下的微观形貌沿滑动方向有梨沟及微观切削形成的沟槽，表面破坏主要是金刚石磨头及磨损过程中脱落的氧化物对样品表面造成的磨粒磨损造成的。A区是金刚石磨头未与样品完全接触而保留下来的原始表面第33页，共87页，星期日，2025年，2月5日低碳钢纳米化样品在6N载荷下的微观形貌表面出现裂纹及剥落坑，这是因为材料表层在往复摩擦力作用下的反复变形增大，导致应变疲劳，裂纹萌生并扩展，最终剥落，磨损机制由开始的磨粒磨损转变为疲劳磨损第34页，共87页，星期日，2025年，2月5日一种(上图)抗氧化能力较差(国内)；另一种(下图)抗氧化能力较强(国外)两者的微双形态呈明显的不同氯化亚铜微观形态的观测第35页，共87页，星期日，2025年，2月5日一种PVC粉料的形貌观测ABS脆件断裂后微观形态的观测第36页，共87页，星期日，2025年，2月5日Fig.2SEMmicrographsofMgNb2O6ceramicsdopedwithdifferentamountofCuBadditionsinteredat1050?C:(a)1.0wt.%(b)2.0wt.%(c)4.0wt.%.第37页，共87页，星期日，2025年，2月5日第38页，共87页，星期日，2025年，2月5日2.高倍金相组织观察与分析扫描电子显微分析（SEM）与金相样相比，扫描电镜的优点：①放大倍数大，分辨率高②景深大③导电样品不用专门磨制样④金相样品（大小尺寸合适）均可用SEM观察3.断裂过程的动态研究拉伸、加热附件装置可以实现动态观察。第39页，共87页，星期日，2025年，2月5日§10.3电子探针X射线显微分析方法扫描电镜与X射线显微分析结合成EPMA（ElectronProbeX—RayMicroanalyzer)特点：（1）分析手段简化，分析时间短（2）样品量少（3）无损检测（4）释谱简单图8－13扫描式电子探针示意图第40页，共87页，星期日，2025年，2月5日关键部件是锂漂移硅Si(Li)探测器：X光照射半导体，产生的电子－空穴对数与光子能量成正比，就可将接收的X射线光子变成电脉冲信号。EnergyDispersiveSpectrum一能谱仪（EDS或EDX）（一）结构与原理第41页，共87页，星期日，2025年，2月5日第42页，共87页，星期日，2025年，2月5日允许使用微细的电子束，分析的空间分辨率高，灵敏度高分析速度快，几分钟内把全部能谱同时显示出来结构紧凑，无运动部件，稳定性好，因此谱线的重复性好（二）能谱分析的优点第43页，共87页，星期日，2025年，2月5日Si(Li)探测器多数需要长期连续保持在液氮的低温下工作和运行采用铍窗隔离，对软X射线吸收严重，即对长波长的X射线吸收多，所以只能分析原子序数在11（Na）以上的元素能谱仪经常有谱线重叠现象，与波谱仪相比，分辨本领差一些定量分析不准确，只能定性和半定量分析扫描电子显微分析（SEM）四、能谱分析的缺点第44页，共87页，星期日，2025年，2月5日二波谱仪第45页，共87页，星期日，2025年，2月5日（一）X射线检测器：闪烁体计数器X光→可见光→光电流输