基本信息
文件名称:半导体设备研发2025年新型检测技术路线探索.docx
文件大小:32.65 KB
总页数:18 页
更新时间:2025-08-06
总字数:约1.13万字
文档摘要
半导体设备研发2025年新型检测技术路线探索
一、半导体设备研发2025年新型检测技术路线探索
1.1技术创新驱动
1.1.1光刻机检测技术
1.1.2晶圆检测技术
1.2检测设备自主研发
1.2.1检测设备国产化
1.2.2检测设备性能提升
1.3检测标准体系建设
1.3.1制定国家标准
1.3.2推动国际标准制定
1.4产业链协同发展
1.4.1产学研合作
1.4.2产业链上下游企业协同
二、半导体设备研发检测技术发展趋势分析
2.1新型检测技术与应用
2.1.1人工智能与大数据在检测中的应用
2.1.2纳米级检测技术的突破
2.1.3光学检测技术的进步
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