基于角分辨光电子能谱解析铁硒薄膜与稀磁半导体材料的电子结构与特性

一、引言

1.1研究背景与意义

在凝聚态物理材料研究的广袤领域中，角分辨光电子能谱（ARPES）技术犹如一把锐利的手术刀，精准剖析物质内部电子结构的奥秘，已然成为不可或缺的关键研究手段。该技术基于光电效应，当一束具有特定能量的光子照射到样品表面时，光子与样品中的电子相互作用，赋予电子足够的能量使其克服表面势垒，逸出样品表面成为光电子。通过精确测量这些光电子的能量和动量（即出射角度），ARPES能够直接获取材料中电子的能量分布、动量分布以及电子态密度等关键信息，进而揭示材料的能带结构、费米面形状、电子-电子相互作用等微观