基本信息
文件名称:LCD电测常见不良简介.ppt
文件大小:9.09 MB
总页数:48 页
更新时间:2025-08-07
总字数:约2.5千字
文档摘要

缺失不良製程責任層別SEG缺失H-ITO:包括ITO異物、ITO膜刮(大口>5μ)與玻璃基板刮(細口<5μ)CS:包括PR塗佈異物與PR後刮傷COM缺失L-ITO:包括ITO異物、ITO剝落、ITO膜刮(大口>5μ)與玻璃基板刮(細口<5μ)CS:包括PR後刮傷、PR氣泡、PR後異物、導通不良(兩側重疊)、蝕刻不良與不穩定缺失*玻璃基板刮*ITO膜刮外觀爲線路有橫斷過整條線的缺口,而造成整條線路斷線,ITO的線路的缺口較平整*ITO異物*光阻塗佈不良玻