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文件名称:探秘n-ZnO异质pn结:压电电子学与压电光电子学效应的深度剖析.docx
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更新时间:2025-08-09
总字数:约2.89万字
文档摘要

探秘n-ZnO异质pn结:压电电子学与压电光电子学效应的深度剖析

一、引言

1.1研究背景与意义

随着科技的飞速发展,半导体器件在现代社会中的应用愈发广泛,从日常的电子设备到高端的科研仪器,都离不开半导体技术的支持。在众多半导体材料中,氧化锌(ZnO)凭借其独特的物理性质,如宽禁带(3.37eV)、大激子束缚能(60meV)以及良好的化学稳定性,成为了研究的热点之一。特别是n-ZnO异质pn结,由于其结合了n型ZnO和p型半导体的特性,展现出了一系列引人注目的压电电子学与压电光电子学效应,这些效应不仅为基础研究提供了新的视角,也为新型半导体器件的开发带来了广阔的应用前景