基本信息
文件名称：集成电路版图设计课件：闩锁效应.pptx
文件大小：3.93 MB
总页数：12 页
更新时间：2025-08-09
总字数：约1.95千字
文档摘要
闩锁效应
CMOS闩锁效应简述01CMOS闩锁效应预防措施02CMOS闩锁效应相关研究03目录
PARTONECMOS闩锁效应简述1
CMOS闩锁效应简述闩锁效应是指CMOS集成电路中所固有的寄生NPN和寄生PNP组成的电路在一定的条件下被触发而形成低阻通路，从而产生大电流，并且由于正反馈电路的存在而形成闩锁，导致CMOS集成电路无法正常工作，甚至烧毁芯片。
CMOS闩锁效应简述根据闩锁的路径特点，可以把闩锁效应分成三种：第一种是当闩锁的路径是从地到电源时，称之为“主”闩锁。第二种是当闩锁的路径是从输入节点到地或者电源时，称之为“输入”闩锁；第三种是当闩锁的路径是