微偏振片阵列型长波红外成像系统标校方法的深度解析与创新实践

一、绪论

1.1研究背景与意义

在当今科技飞速发展的时代，红外成像技术作为获取信息的重要手段，在众多领域发挥着举足轻重的作用。其中，长波红外成像技术凭借其独特的优势，逐渐成为研究的热点。长波红外波段（通常指7.5-14微米）的电磁辐射主要来源于物体自身的热辐射，与物体的温度密切相关。所有温度高于绝对零度（-273.15℃）的物体都会发射长波红外辐射，且辐射强度和光谱分布特征能够反映物体的温度、材质、结构等信息。这使得长波红外成像在复杂环境下，如烟雾、雾霾、部分云层等大气气溶胶以及一些非透明材料（如塑料、陶瓷等）中，具有独特