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文件名称:半导体封装工艺参数及检查测试知识试卷.docx
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总页数:11 页
更新时间:2025-08-09
总字数:约3.14千字
文档摘要

半导体封装工艺参数及检查测试知识试卷

1、DA工艺中,完成顶针更换及调试后,应执行diebackinspection,抽样数为()

A、1

B、3(正确答案)

C、5

D、6

2、一般情况下,芯片边缘到paddle的距离(),不检查粘接料覆盖范围,

A、≤5mil(正确答案)

B、≤5um

C、≥8mil

D、≥5mil

3、芯片边缘到paddle的距离()时,银浆覆盖率必须大于芯片边长的75%,

A、≤5mil

B、≤5um

C、≥8mil

D、≥5mil(正确答案)

4、在正常情况下,对于MPSAEC的产品,芯片银浆覆盖面积必须大于()

A、75%

B