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文件名称:高性能高密度现场可编程门阵列架构设计与测试方法的深度探索.docx
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更新时间:2025-08-10
总字数:约3.57万字
文档摘要

高性能高密度现场可编程门阵列架构设计与测试方法的深度探索

一、引言

1.1研究背景与意义

在当今数字化时代,电子系统的性能需求不断攀升,对关键器件的性能和密度提出了严苛要求。现场可编程门阵列(FieldProgrammableGateArray,FPGA)作为一种重要的可编程逻辑器件,凭借其灵活性、可重构性以及并行处理能力,在通信、工业自动化、航空航天、医疗设备、人工智能等众多领域得到了广泛应用。

在通信领域,随着5G乃至未来6G技术的发展,对高速数据交换、编解码器以及加密解密器等功能的实现提出了更高要求。FPGA因其高速处理能力和可灵活编程的特性,能够很好地满足这些需求,被