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文件名称:数字集成电路测试压缩方法:原理、实践与创新突破.docx
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总页数:38 页
更新时间:2025-08-10
总字数:约4.92万字
文档摘要
数字集成电路测试压缩方法:原理、实践与创新突破
一、引言
1.1研究背景与意义
1.1.1数字集成电路发展现状
在现代电子系统中,数字集成电路(DigitalIntegratedCircuit,DIC)已成为核心组成部分,其应用领域极为广泛,涵盖了从日常消费电子到高端通信、计算机以及航空航天等诸多关键领域。从智能手机、平板电脑等便携设备,到超级计算机、卫星导航系统等大型复杂系统,数字集成电路无处不在,为这些系统的高效运行提供了基础支持。
随着科技的飞速发展,数字集成电路在规模和复杂度方面呈现出迅猛的增长趋势。自1965年戈登?摩尔提出摩尔定律以来,集成电路上可容纳的晶体管数目大约