单幅电子散斑干涉条纹图相位提取方法：原理、创新与多元应用

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代科学研究与工程应用中，对于物体微小变形和位移的精确测量至关重要。电子散斑干涉测量技术（ESPI，ElectronicSpecklePatternInterferometry）作为一种先进的光学测量手段，凭借其非接触式测量、高精度、全场测量以及对测量对象表面无需特殊处理等突出优点，在众多领域得到了广泛应用。该技术利用激光照射物体表面产生的散斑作为信息载体，通过分析物体变形前后散斑干涉条纹图的变化，来获取物体表面的位移和形变信息。在航空航天领域，可用于飞行器零部件在复杂工况下的变形监测，确保飞行