辐射环境下微纳米器件可靠性的多维度探究：机理、试验与前沿展望

一、引言

1.1研究背景与意义

随着科技的迅猛发展，微纳米器件在现代电子系统中的应用日益广泛，其性能和可靠性直接关系到整个系统的运行稳定性和安全性。在航天、核能等特殊领域，微纳米器件不可避免地会暴露于复杂的辐射环境中，这对其可靠性构成了严峻挑战。因此，深入研究辐射环境下微纳米器件的可靠性变化机理与试验方法具有重要的现实意义和理论价值。

在航天领域，航天器在轨道运行过程中会受到来自宇宙射线、太阳耀斑等的高能粒子辐射，这些辐射粒子能量高、种类多，如质子、重离子、电子等。据统计，空间辐射效应引起的航天器故障占总故障的45%左右，居航