基于快速算法的Tikhonov正则化同伦法在电阻抗成像中的应用研究

一、引言

1.1研究背景与意义

电阻抗成像（ElectricalImpedanceTomography,EIT）技术作为一种极具潜力的成像方法，近年来在多个领域得到了广泛关注。其基本原理是基于物体内部不同物质具有不同的导电参数，如电阻率、电容率等特性，通过在物体表面施加电流或电压，并测量相应的响应信号，进而重建出物体内部导电参数的分布图像，以此反映物体内部的结构信息。这种成像技术具有诸多独特优势，如非侵入性、无损伤、操作简便以及成本低廉等，使其在医学、工业等众多领域展现出广阔的应用前景。

在医学领域，电阻抗成像技术为