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文件名称:基于数值模拟的虚火花放电电子束产生机理深度剖析.docx
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更新时间:2025-08-19
总字数:约3.35万字
文档摘要

基于数值模拟的虚火花放电电子束产生机理深度剖析

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代科技的发展进程中,电气设备广泛应用于各个领域,从日常生活中的家用电器到工业生产中的大型装备,其稳定运行对于社会的正常运转至关重要。然而,电气设备在运行过程中,由于各种因素的影响,如电压波动、绝缘老化、机械振动等,常常会出现电气故障。其中,虚火花放电作为一种特殊的高电压放电现象,在空气绝缘系统中时有发生,给电气设备的安全运行带来了严重威胁。据相关研究统计,在部分电气故障案例中,虚火花放电引发的故障占比不容忽视,其产生的电离和电磁波辐射等现象,不仅可能导致设备局部过热、绝缘损坏,严重时甚至会引发火灾、爆炸等灾