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NAND型闪存存储器寿命试验方法标准研究报告

StandardResearchReportonLifetimeTestMethodsforNANDFlashMemory

摘要

随着云计算、5G通信和物联网技术的快速发展，数据存储需求呈现爆炸式增长，NAND型闪存存储器（NANDFlashMemory）作为主流非易失性存储介质，广泛应用于固态硬盘（SSD）、移动终端、U盘及各类存储卡中。然而，NAND闪存的寿命受多种因素影响，包括存储单元结构（SLC/MLC/TLC/QLC）、制程工艺（2D/3D）、工作环境等，导致不同厂商的测试标准不统一，影响产业链的健康发展。

本报告