基于随机电报噪声（RTN）的新型存储器可靠性分析：方法、挑战与突破

一、引言

1.1研究背景与意义

在信息技术飞速发展的当下，数据量呈爆炸式增长，对存储器的性能和可靠性提出了前所未有的挑战。新型存储器作为现代信息技术的关键支撑，其性能的优劣直接影响着整个信息系统的运行效率和稳定性。从大数据分析到人工智能训练，从云计算到物联网，各个领域都对存储器的容量、速度、功耗以及可靠性有着严格要求。例如，在人工智能领域，深度学习模型的训练需要处理海量的数据，这就要求存储器能够快速地读取和写入数据，同时保证数据的准确性和完整性。

随机电报噪声（RTN）作为一种在半导体器件中普遍存在的电子噪声，对新型存储器的