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文档摘要

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磁共振技术在短暂性脑缺血发作诊断与评估中的多维探究

一、引言

1.1研究背景与意义

短暂性脑缺血发作（TransientIschemicAttack，TIA）作为一种常见的脑血管疾病，近年来受到了广泛的关注。TIA是指由局灶性脑、脊髓或视网膜缺血引起的短暂性神经功能障碍，且无急性梗死证据。它是缺血性卒中最重要的可干预危险因素之一，具有高发病率、高复发率和高致残率的特点。据统计，约30%的TIA患者在1年内会发生脑梗死，10%-15%的患者在90天内发生脑梗死，其中约半数发生在TIA发作后的2天内。TIA不仅严重影响患者的生活质量，给患者及其家庭带来沉重的