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偏振干涉术应用于折射率、滚转角位移量测

PolarizationInterferometryforthe

MeasurementofRefractiveIndexandRollAngularDisplacement

干涉术广泛应用于精密加工和光学元件测量，对科研和工程应用至关重要。本文提出了一种基于偏振相机之新型偏振干涉仪，可以快速获得待测物所引入的相位变化，进而推算出特定物理参数之变化。本文除了介绍偏振干涉术的工作原理，亦藉由理论推导与实验，验证此技术在透明物体的折射率量测与滚动角位移量测的可行性。

Interferometryiswidelyusedin