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文件名称:CMOS-MEMS集成工艺中低温熔融键合技术的深度剖析与应用拓展.docx
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总页数:27 页
更新时间:2025-09-05
总字数:约3.71万字
文档摘要
CMOS-MEMS集成工艺中低温熔融键合技术的深度剖析与应用拓展
一、引言
1.1研究背景与意义
在现代科技飞速发展的背景下,微机电系统(MEMS)与互补金属氧化物半导体(CMOS)技术的集成,即CMOS-MEMS集成工艺,已成为半导体领域的关键技术之一,在物联网、智能穿戴、汽车电子、生物医疗等诸多领域展现出广阔的应用前景。
MEMS技术能够将微型机械结构、传感器、执行器与电子电路集成在同一芯片上,实现了系统的微型化、智能化和多功能化,如MEMS加速度计可用于智能手机的运动检测和屏幕自动旋转功能,MEMS麦克风则广泛应用于语音识别设备和通信终端。CMOS技术以其高集成度、低