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文档摘要

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相衬CT原理验证装置控制系统：架构、算法与应用研究

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代科学技术的迅猛发展进程中，成像技术作为探索物质内部结构和特性的关键手段，一直处于不断革新的前沿。传统的X射线计算机断层扫描（CT）技术基于X射线的吸收原理，通过测量X射线在物体中不同方向上的透射强度，来还原物体内部的吸收分布，从而形成断层图像。这种技术在检测密度差异较大的组织或物质时，能够展现出较好的成像效果，在医学诊断、工业无损检测等众多领域得到了广泛应用，为相关领域的发展提供了重要的技术支持。然而，随着科学研究的深入以及实际应用需求的不断提升，传统CT技术的局限性逐渐凸显。当面对主要