量子精密测量用超高反射率光学薄膜性能表征及测量方法发展报告

摘要

本报告旨在系统阐述量子精密测量用超高反射率光学薄膜性能表征及测量方法标准研制的目的、意义、范围及主要技术内容。量子精密测量用超高反射率光学薄膜是实现高精度测量系统的核心器件，广泛应用于光学原子钟、激光干涉引力波探测、国防军工等重要领域。尽管相关制备与测试技术已较为成熟，但由于缺乏统一的标准规范，导致行业测试结果不一致、产品性能参差不齐，严重制约了技术创新与产业发展。本报告的研制将填补国际国内标准空白，推动行业达成共识，促进科研进步与产业规范化发展，并为国际标准提供技术参考。

要点列表

-量子精密测量用超高反射率光学薄膜反射率需