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文件名称:耐电晕试验电路关键技术的深度剖析与创新研究.docx
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总页数:26 页
更新时间:2025-09-06
总字数:约3.26万字
文档摘要
耐电晕试验电路关键技术的深度剖析与创新研究
一、绪论
1.1研究背景
在现代工业与科技的飞速发展进程中,电气设备的应用愈发广泛,其安全稳定运行对于各领域的正常运转起着关键作用。绝缘作为电气设备的重要组成部分,如同坚固的防护壁垒,对保障设备的可靠运行意义重大。然而,随着电气设备向高电压、高频化方向的不断迈进,电晕现象给绝缘带来的威胁日益凸显,成为制约电气设备性能与寿命的关键因素。
在变频电机领域,交流调速技术凭借脉宽调制(PWM)技术的发展与进步而日益成熟。交流调速电机由变频器、电动机和连接电缆构成,与直流调速电机相比,具有节能、体积小、易于维护等显著优点,在电力机车、船舶、冶金等众多领域获得