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文件名称:创新引领半导体制造:2025年刻蚀工艺优化技术突破深度报告.docx
文件大小:38.07 KB
总页数:30 页
更新时间:2025-09-14
总字数:约1.65万字
文档摘要

创新引领半导体制造:2025年刻蚀工艺优化技术突破深度报告参考模板

一、创新引领半导体制造:2025年刻蚀工艺优化技术突破深度报告

1.1刻蚀工艺概述

1.2刻蚀工艺的发展历程

1.32025年刻蚀工艺优化技术突破

1.3.1EUV刻蚀技术

1.3.1.1提高EUV光源的稳定性和寿命

1.3.1.2优化EUV光刻机的结构设计

1.3.1.3开发新型EUV光刻胶

1.3.2化学气相沉积(CVD)刻蚀技术

1.3.2.1开发新型CVD刻蚀材料

1.3.2.2优化CVD刻蚀工艺

1.3.2.3实现CVD刻蚀技术在更小尺寸芯片上的应用

1.3.3干法刻蚀技术

1.3.3.1开