基本信息

---

下载

文档摘要

---

测量系统的特性

?测量系统必须处于统计控制中，这意味着量测系统中

的变差只能是由于普通而不是由于特殊造成的。

这可称为统计稳定性。

?测量系统的变差必须比制造过程的变差小。

?变差应小于公差带。

?测量精度应高于过程变差和公差带两者中精度较高者，

一般来说，量测精度是过程变差和公差带两者中精度较高

者的十分之一。

?测量系统统计特性可能随被测项目的改变而变化。若真

的如此，则量测系统的最大的变差应小于过程变差和公差

带两者中的较小者。