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文件名称:电子器件散热中微槽平板热管与微通道传热机理及应用研究.docx
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更新时间:2025-09-18
总字数:约2.66万字
文档摘要
电子器件散热中微槽平板热管与微通道传热机理及应用研究
一、引言
1.1研究背景与意义
随着科技的飞速发展,电子器件正朝着小型化、高功率密度和多功能化的方向迈进。在这一发展趋势下,电子器件在运行过程中会产生大量的热量,若这些热量不能及时有效地散发出去,将会导致电子器件的温度急剧升高。据相关研究表明,电子元器件的可靠性对温度十分敏感,当电子元器件的工作温度达到70-80℃后,温度每上升1℃,其可靠性就会降低5%,超过55%的电子设备失效的主要原因是温度过高。例如,对于Si基器件而言,其最高工作结温为175℃,而要保证器件安全工作,民用级芯片的最高工作温度不能超过70℃、工