基本信息
文件名称:Ga-N共掺实现p型ZnMgO薄膜的特性与制备工艺研究.docx
文件大小:45.21 KB
总页数:36 页
更新时间:2025-09-22
总字数:约5.09万字
文档摘要

Ga-N共掺实现p型ZnMgO薄膜的特性与制备工艺研究

一、引言

1.1研究背景与意义

随着光电器件技术的飞速发展,对新型半导体材料的需求日益迫切。ZnMgO薄膜作为一种重要的宽禁带半导体材料,在光电器件领域展现出了巨大的应用潜力。其禁带宽度可在3.37-7.8eV之间连续调节,这使得它在短波长光电器件,如紫外发光二极管(UV-LED)、紫外探测器、蓝光激光器等方面具有独特的优势。在紫外探测器中,ZnMgO薄膜能够对紫外光产生快速且灵敏的响应,为环境监测、生物医学检测等领域提供了关键的技术支持。在蓝光激光器中,其宽禁带特性有助于实现高效的蓝光发射,推动了光通信、光存储等领域的发