基于扫描阵列的快速低功耗可测性设计方法研究：原理、应用与优化

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代电子系统飞速发展的当下，集成电路的集成度和复杂性呈指数级增长。以智能手机芯片为例，其晶体管数量已达数十亿之多，功能也愈发丰富多样。在这样的发展态势下，扫描阵列技术作为现代芯片设计中广泛应用的测试方法，显得尤为重要。扫描阵列通过利用扫描链，能够较为便捷地完成芯片测试，显著提高芯片测试效率。其核心在于在电路中运用扫描寄存器（SR）替换普通寄存器等记忆单元，以此提升电路的可观测性和可控制性。在控制信号和时钟信号的协同作用下，扫描寄存器可执行扫入（scan-in）和扫出（scan-out）操作，测试