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文档摘要

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稀土元素对引线框架用铜合金氧化性能的影响机制研究

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代电子产业中，集成电路（IC）作为核心部件，广泛应用于计算机、通信、消费电子等各个领域。随着电子设备朝着小型化、高性能化、多功能化的方向发展，对集成电路的性能和可靠性提出了更高的要求。引线框架作为集成电路的关键组成部分，起着支撑芯片、连接外部电路以及散热等重要作用。据统计，在半导体封装成本中，引线框架约占15%-30%，其性能直接影响着集成电路的质量和稳定性。

铜合金凭借其优良的导电、导热性能，较高的强度和硬度，以及良好的加工性能，成为目前应用最广泛的引线框架材料，占据了全球约80%的市场份额。常见