基本信息

---

下载

文档摘要

---

※不合格的次数分配:从技术上去研究改进。(1)制程平均值过于偏左边,如技术上能将平均值变更时,取SL之中心值为新的X即可,已产生之制品需全检挑出不良。(2)制程之差异过大,需变更工程或变更SL,已产生之制品,需全数检查挑出不良。※不正常的分配型态:(1)双峰型:此种图型可能混入两个不同群体。(2)绝壁型:此种图型制程能力不足,测定误差检查错误或假数据。(3)右偏型:不良率或缺点数近于0%使SL受到某种原因之限制,应查明原因。(4)离岛型:制程有某种异常。(5)缺齿型