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文件名称:2025年大模型在超大规模集成电路测试中的优化答案及解析.docx
文件大小:15.24 KB
总页数:8 页
更新时间:2025-09-24
总字数:约7.61千字
文档摘要
2025年大模型在超大规模集成电路测试中的优化答案及解析
一、单选题(共15题)
1.在超大规模集成电路测试中,以下哪项技术能够显著提升大模型的测试效率?
A.分布式训练框架
B.参数高效微调(LoRA/QLoRA)
C.持续预训练策略
D.对抗性攻击防御
答案:A
解析:分布式训练框架通过在多个计算节点上并行处理数据,能够显著提升大模型的测试效率,缩短测试周期。参考《分布式训练框架技术指南》2025版3.2节。
2.在超大规模集成电路测试中,以下哪种方法可以减少大模型训练所需的计算资源?
A.推理加速技术
B.模型并行策略
C.低精度推理
D.云边端协同部署
答