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文件名称:熔融法制备纳米及微米级二氧化硅颗粒的工艺与性能研究.docx
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总页数:24 页
更新时间:2025-09-24
总字数:约3.04万字
文档摘要
熔融法制备纳米及微米级二氧化硅颗粒的工艺与性能研究
一、引言
1.1研究背景与意义
二氧化硅(SiO_2)作为一种极其重要的无机化合物,在自然界广泛存在,是许多岩石和矿石的关键组成部分。因其具备众多优异特性,二氧化硅在现代工业和科研领域占据着举足轻重的地位。从微观层面来看,纳米及微米级别的二氧化硅颗粒,凭借其小尺寸效应、表面效应和量子尺寸效应等,展现出与常规二氧化硅截然不同的物理和化学性质,在众多前沿领域拥有广阔的应用前景。
在半导体领域,纳米二氧化硅薄膜凭借其硬度大、防腐蚀性强、耐潮湿性佳以及介电性能突出等优势,被广泛用作器件的保护层、钝化层和隔离层,对保障半导体器件的性能和稳定性起着关