2025年大模型在超大规模集成电路测试中的缺陷优化答案及解析

一、单选题（共15题）

1.以下哪项技术被广泛应用于超大规模集成电路测试中的缺陷优化，以提升测试效率和准确性？

A.神经架构搜索（NAS）

B.分布式训练框架

C.模型量化（INT8/FP16）

D.知识蒸馏

2.在大模型应用于超大规模集成电路测试时，如何有效解决梯度消失问题？

A.使用ReLU激活函数

B.增加网络层数

C.应用梯度累积技术

D.使用Adam优化器

3.在超大规模集成电路测试中，对抗性攻击防御技术的主要目的是什么？

A.提高测试结果的可靠性

B.降低测试成本

C.加快测试速度

D.