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文件名称:AlGaN_GaN高电子迁移率晶体管模型:原理、构建与应用前景.docx
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总页数:27 页
更新时间:2025-09-25
总字数:约3.66万字
文档摘要

AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管模型:原理、构建与应用前景

一、引言

1.1研究背景与意义

在半导体技术不断演进的历程中,AlGaN/GaN高电子迁移率晶体管(HEMT)凭借其卓越的性能优势,逐渐崭露头角,成为了现代半导体领域的关键研究对象,在高频、高功率和低噪声应用等方面展现出了广泛的应用前景。

AlGaN/GaNHEMT基于第三代宽禁带半导体材料氮化镓(GaN)与氮化铝镓(AlGaN)的异质结结构,这种独特的材料组合赋予了器件诸多优异特性。与传统的硅基半导体器件相比,GaN材料具有大禁带宽度(3.4eV),这使得AlGaN/GaNHEMT能够在更高的温度下稳定工作,同