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文件名称:硅基氧化锌薄膜:从外延生长到电致发光特性的深度剖析.docx
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总页数:41 页
更新时间:2025-09-25
总字数:约3.74万字
文档摘要
硅基氧化锌薄膜:从外延生长到电致发光特性的深度剖析
一、引言
1.1研究背景与意义
在半导体材料的广阔领域中,氧化锌(ZnO)薄膜凭借其独特的性能优势,逐渐崭露头角并占据了重要地位。氧化锌晶体呈现六方纤锌矿结构,拥有一系列优异特性。其常温下的禁带宽度约达3.37eV,属于宽禁带半导体材料,这一特性使得它在短波长光电器件的应用中展现出巨大潜力,尤其是在紫外光电器件领域,如紫外探测器和紫外发光二极管(LED),能实现高效的光电转换。此外,氧化锌还具有高达60meV的激子结合能,远高于许多常见半导体材料,这使得它在室温下就能够实现有效的激子发射,为制备高性能的发光器件提供了可能,是理想的