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文件名称：X荧光分析仪培训.pptx
文件大小：2.82 MB
总页数：27 页
更新时间：2025-09-26
总字数：约4.17千字
文档摘要
X荧光分析仪培训演讲人：日期:
CATALOGUE目录01仪器基础介绍02操作流程规范03数据分析技术04应用场景实例05维护与故障处理06培训评估与提升
01仪器基础介绍
X荧光分析仪（XRF）通过高能X射线激发样品原子内层电子，产生特征X射线荧光，通过检测荧光能量和强度实现元素定性与定量分析。非破坏性元素分析技术能量色散型（ED-XRF）通过半导体探测器分辨荧光能量，波长色散型（WD-XRF）利用分光晶体区分波长，两者分别适用于快速筛查和高精度分析。能谱与波长区分原理仪器需通过经验系数法或基本参数法（FP法）校正样品基体对荧光强度的吸收或增强效应，确保数据准确性。基体效应校正定义与工作原