基本信息

---

下载

文档摘要

---

现代材料方法试题及答案

一、单项选择题（每题2分，共20分）

1.以下哪种材料表征技术基于X射线与晶体的相互作用，用于分析材料的晶体结构？

A.扫描电子显微镜（SEM）

B.X射线衍射（XRD）

C.原子力显微镜（AFM）

D.差示扫描量热法（DSC）

2.扫描电子显微镜（SEM）的成像主要依赖于样品表面激发出的哪种信号？

A.透射电子

B.背散射电子

C.特征X射线

D.二次电子

3.透射电子显微镜（TEM）的分辨率主要受限于以下哪一因素？

A.电子束加速电压

B.物镜球差

C.样品厚度

D.探测器灵