基本信息
文件名称:二氧化钒薄膜半导体 - 金属相变中的电学与光学性质的深度剖析与应用展望.docx
文件大小:37.48 KB
总页数:24 页
更新时间:2025-09-30
总字数:约3.2万字
文档摘要
二氧化钒薄膜半导体-金属相变中的电学与光学性质的深度剖析与应用展望
一、引言
1.1研究背景与意义
在材料科学领域,具有特殊相变特性的材料一直是研究的热点。二氧化钒(VO?)薄膜作为一种典型的热致相变材料,因其独特的半导体-金属相变特性,在智能窗、光电开关、红外探测器等众多领域展现出了巨大的应用潜力。
VO?薄膜在特定温度(约68℃,不同制备方法和条件下会有所差异)下会发生从半导体态到金属态的可逆相变。在半导体态时,它对红外光具有较高的透射率,而在金属态下,红外光透射率急剧下降,同时电学性质如电阻率也会发生显著变化,可出现几个数量级的改变。这种在相变过程中电学和光学性质的突变,是其