基本信息

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文档摘要

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软场特性下ECT图像成像算法的深度解析与创新优化

一、引言

1.1研究背景

在当今科学技术飞速发展的时代，计算机断层成像（ComputedTomography，CT）技术作为一种强大的非破坏性检测手段，在医学、工业、地质、航空等众多领域都占据着举足轻重的地位。它能够对目标物体内部的各种参数进行成像，为人们深入了解物体的内部结构和组成提供了关键信息，极大地推动了相关领域的发展与进步。

电容层析成像（ElectricalCapacitanceTomography，ECT）作为CT技术中的重要一员，以其独特的技术优势在诸多领域崭露头角。ECT是一种非侵入式、实时、非辐射且非磁性的三维成